方块电阻测试仪/电阻测试仪

方块电阻测试仪/电阻测试仪  型号：TS-SRM-232-100
TS-SRM-232-100型方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
    TS-SRM-232-100型方块电阻测试仪根据不同的测量范围分成以下四种型号：GSZ-SRM-232-10、GSZ-SRM-232-100、GSZ-SRM-232-1000、GSZ-SRM-232-2000；

◆ 特点： 

1 轻便手持式设计
2 127个数据测试点保存
3 通过RS-232与电脑通讯

 
◆ 技术指标：

GSZ-SRM-232-10 测量范围： 0.000～9.999(Ω/□)
 分辨率：0.004(Ω/□)
GSZ-SRM-232-100  测量范围：00.00～95.00(Ω/□)
 分辨率：0.04(Ω/□)
GSZ-SRM-232-1000  测量范围0～1000(Ω/□)
 分辨率：0.4(Ω/□)
GSZ-SRM-232-2000  测量范围：0～2000(Ω/□)
 分辨率：0.8(Ω/□)