工频介电常数介质损耗测试仪 型号:GDAT-A
一、工频介电常数介质损耗测试仪
概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至Z低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T5594.4-1985。
二、工频介电常数介质损耗测试仪技术指标
1.Q值测量
a.Q值测量范围:5~999。
b.Q值量程分档:30、100、300、999、自动换档。
c.标称误差
频率范围:25kHz~10MHz;
固有误差:≤5%±满度值的2%;工作误差:≤7%±满度值的2%;
频率范围:10MHz~50MHz;
固有误差:≤7%±满度值的2%;工作误差:≤10%±满度值的2%。
2.电感测量
a.测量范围:0.1μH~1H。
b.分 档:分七个量程。
0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,
0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。
3.电容测量
a.测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则);
b.电容量调节范围
主调电容器:40~500pF;
准 确 度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;
微调电容量:-3pF~0~+3pF;
准 确 度:±0.2pF。
4.振荡频率
a.振荡频率范围:25kHz~50MHz;
b.频率分档:
25~74kHz, 74~213kHz, 213-700kHz, 700kHz~1.95MHz,
1.95MHz~5.2MHz, 5.2MHz~17MHz, 17~50MHz。
c.频率误差:2×10-4±1个字。
5.Q合格指示预置功能,预置范围:5~999。
6.仪器正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.试样尺寸
圆片形:厚度2+0.5mm,直径为Φ30~40mm(ε<12时),Φ25~35mm(ε=12~30时),Φ15~20mm(ε>30时)
8.其他
a.消耗功率:约25W;
b.净重:约7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
| 产品名称:晶闸管综合测试仪 产品型号:DBC-021/031 |
晶闸管综合测试仪型号:DBC-021/031
可控硅的伏安特性和触发特性是晶闸管的基本特性,这些特性的好坏,直接影响到器件在整机上的正常使用。因此,检测晶闸管的伏安特性和触发特性在晶闸管器件的、经销及使用过程中都是十分重要的。测试以上参数通常由晶闸管伏安特性测试仪和晶闸管门触发特性测试仪完成,测试伏安特性参数时还需另配一台示波器观看伏安特性曲线,以上三台仪器常规价在7000—10000元以上,且台数多、占地大、操作不方便。我们根据广大用户的需求,现研制出将以上三台仪器作在一起的晶闸管伏安特性、触发特性综合测试仪,深受广大用户好评。
该测试仪测试方法符合国标GB4024-83的规定,采用单片机控制,自动测试、数字显示。线路设计简捷精练,机内示波器可直接观看伏安特性曲线。具有体积小、重量轻、操作简单、测试准确、保护可靠、维修方便、价格低廉等特点,能测试各种晶闸管及晶闸管模块的正反向不重复峰值电压、反向重复峰值电压、正反向重复峰值漏电流及门触发电流与触发电压。是晶闸管器件厂、器件经销商及整机厂检测晶闸管多项参数的综合性测试设备。
晶闸管在使用过程中,由于受到过流、过压、过热等诸多因素的影响,其伏安特性和触发特性将会逐渐变差,甚至不能维持正常使用或*损坏,因此在进行整机维修时,对已用过的元件和要新上机的元件进行检测确认性能良好后再上机,对尽快排除设备故障少走弯路很有好处。
机内自备有示波器供观看伏安特性曲线
单片机控制,测试参数数字显示
峰值电压测试范围: 0-3000V
峰值漏电流测试范围: 0-100mA
触发电压测试范围: 0-5V
触发电流测试范围: 5-450mA
DBC-021、031 可控硅综合特性测试仪简介

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