方块电阻测试仪

方块电阻测试仪/电阻测试仪  型号：SRM-232-100 
SRM-232-100型方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。 
◆ 特点：  
1 轻便手持式设计 
2 127个数据测试点保存 
3 通过RS-232与电脑通讯 

◆ 技术指标： 

SRM-232-10 测量范围： 0.000～9.999(Ω/□) 
 分辨率：0.004(Ω/□) 
SRM-232-100  测量范围：00.00～95.00(Ω/□) 
 分辨率：0.04(Ω/□) 
SRM-232-1000  测量范围0～1000(Ω/□) 
 分辨率：0.4(Ω/□) 
SRM-232-2000  测量范围：0～2000(Ω/□) 
 分辨率：0.8(Ω/□)